Elektronová spektroskopie emise fotoelektronů FCH VUT


20.03.2026

Tento článek se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.

Základy elektronové mikroskopie

Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.

Osnova

  1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
  2. Použití elektronové mikroskopie
  3. Elektronová a iontová optika
  4. Elektronové a iontové zdroje
  5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
  6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
  7. Vakuový systém
  8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
  9. Speciální stolky preparátu
  10. Mikroskop jako systém
  11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
  12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
  13. Mikroskop jako laboratoř
  14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii

Fotoelektronová spektroskopie (XPS)

Základy fotoelektrové spektroskopie. Elekronový spektrometr, zdroje záření pro elektronovou spektroskopii (zdroj rentgenového záření, zdroj elektronů, synchrotron). Proces fotoemise a emise Augerových elektronů. Fotoelektronové spektrum, ztrátové a satelitní píky, pozadí. Struktura, tvar, šířka a intenzita čar, chemický posuv. Kvantitativní analýza.

Hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (SIMS)

Historický vývoj studia interakce iontů s pevnou látkou (PL). Způsoby modelování interakcí iontů s PL. Produkty interakce iontů s PL a jejich využití při analýze metodami SIMS, RBS, PIXE, ISS a pod. Princip metody hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (SIMS). Přístrojové vybavení analytických zařízení SIMS. Způsoby analýzy metodou SIMS (statický a dynamický SIMS, mapování, hloubkové profilování, 3D analýza, nanoSIMS). Oblasti použití metody SIMS a praktické příklady.

Moderní spektroskopické metody

Kurs podává ucelený přehled spektroskopických metod založených na elektromagnetickém záření. Rovněž zahrnuje principy konstrukce spektrometrů, zdrojů světla, detektorů a dalších nástrojů užívaných ve spektroskopii. Nakonec bude podán přehled o spektroskopických metodách, které jsou v současnosti v chemii užívány. Rovněž budou rozebrány i metody, které do chemie teprve proniknou.

Čtěte také: Ekologie a její význam

Osnovy výuky

  1. Atomární a molekulové energiové hladiny. Elektromagnetické záření a spektrální přechody. Absorpce elektromagnetického záření
  2. Atomární spektroskopie. Profil spektrální čáry
  3. Rotační spektra, centrifugální distorze. Ramanovský rozptyl záření
  4. Vibrační spektra, anharmonicita vibrací
  5. Vibračně-rotační spektra dvouatomových molekul. Vibrace víceatomových molekul, grupové vibrace
  6. Elektronová spektroskopie, Franck-Condonův princip. Výběrová pravidla pro elektronové přechody. Fluorescence a fosforescence, fotoelektronová spektroskopie
  7. Spektrometry - konstrukce, disperzní hranoly, mřížky, rozlišení
  8. Zdroje světla, lasery
  9. Detektory a další příslušenství
  10. Magnetické rezonanční metody. EPR a NMR spektroskopie
  11. Emisní metody: ICP, LIBS, GD-OES, MW-OES, microdischarge-OES, VUV emise
  12. Absorpční metody: UV-VIS, IR, FT-IR, MW, CRDS; fluorescenční metody: Raman, microRaman, fluorescenční spektrometrie, LIF, TALIF, laserová tomografie
  13. Částicové metody: QMS, TOF MS, IMS, Augerova spektrometrie, XPS, XRD, RBS, Moesbauerova spektrometrie, SIMS, PIXE; další metody: elipsometrie, ultrazvuková spektrometrie, AFM, frekvenční spektrometrie

Optická mikroskopie a spektroskopie

  • Princip optického mikroskopu, zobrazovací soustava a parametry zobrazení (složený mikroskop, konjugované roviny, objektiv, kondenzor, okulár, osvětlovací soustava a zdroje osvětlení, zvětšení, optické vady, aplanatické soustavy, Abbeova teorie zobrazení, rozlišovací schopnost, funkce rozmytí bodu, optická funkce přenosu)
  • Speciální metody mikroskopie (metody zvýšení kontrastu - temné pole, Zernikův fázový kontrast, Hoffmanův modulační kontrast, šikmé osvětlení, Nomarského diferenciální interferenční kontrast, polarizační mikroskopie, Rheinbergovo osvětlení, fluorescenční mikroskopie, konfokální mikroskopie, interferenční a holografická mikroskopie)
  • Digitální zobrazování v mikroskopii
  • Pokročilé metody optické mikroskopie a spektroskopie (zobrazování živých buněk, dvoufotonová fluorescence, FRAP, FRET, STED, rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli - SNOM, Ramanova spektroskopie, CARS)

Čtěte také: Důležitost revize komínu

Čtěte také: Pracovní Náplň: Environmentální Inženýr

tags: #elektronová #spektroskopie #emise #fotoelektronů #FCH #VUT

Oblíbené příspěvky:

Napsat komentář

Vaše e-mailová adresa nebude zveřejněna. Vyžadované informace jsou označeny *

Kontakt

Zelaná Hrebová, z.s.

[email protected]
IČ: 06244655
Paskovská 664/33
Ostrava-Hrabová
72000

Bc. Jana Veclavaková, DiS.

tel. 774 454 466
[email protected]

Jaena Batelk, MBA

tel. 733 595 725
[email protected]